出版AOI
设备特点
· 精准数控式组合光源，千万像素级工业CCD及镜头
· 设备小巧、系统稳定、操作简单，具有和迈为、科隆威、捷佳创等印刷厂商配套经验
· 在线式检测，可与产线MES无缝连接
· 非接触式光学AOI检测，可以快速且可靠地检测出更类印刷异常，第一时间发现网板或者浆料等设备定位的问题，避免出现批量电池片印刷降级
· 采用多等级检测结果处理条件，可针对不同的检测项目设置不同的处理，报警提示或停机处理
| 项目 | 规格 |
适用Wafer尺寸 | 156*156mm- 170*170mm |
| 适用Wafer类型 | 单晶、多晶，金刚线单晶、多晶，PERC电池片 |
| 最高产能 | 3800PCS/小时 |
| 像素精度 | <0.047mm |
检测缺陷精 | <0.09mm |
| UPTime | >98% |
| 误判率 | <1% |
漏报率 | <0.1% |
设备外观&安装图
成像效果
